全纸幅成型分析实现纸张均匀度的全面测量

精益求精的纸张和纸板生产商们正在不断探寻,以便为他们的最终客户实现最优的可印刷性、减少废品率并实现始终如一的输出质量。ABB纸幅成像系统(WIS)具有成型分析功能,可以在制造过程中对全纸幅进行均匀度测量,并提供高度确定、可视化显示的测量结果。

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挑战


    • 絮团分布或均匀度问题可能影响运行性能
    • 最终产品存在印刷适性问题

纸幅成像系统可测量纤维和填料在纸幅中的分布,从而确定全纸幅的均匀度

我们专利的全纸幅成型分析功能旨在重新定义测量精度标准,可提供更深入、更精确的成型分析,帮助造纸企业进一步优化现有的纸张性能,以实现更高的质量目标。


实时有效的全面测量避免停机

传统的测量技术仅观察纸幅的一小部分,而且不会揭示絮团的大小或形状,但是ABB的全纸幅解决方案利用专利方法、并行处理以及基于智能相机平台的灵活FPGA(现场可编程门阵列),从而测算纸幅上絮团的大小和形状并进行分级。这显著增强了判断纸幅均匀度的能力,同时避免了错误的结果。


低质量(黄色柱状图)和高质量(蓝色柱状图)样本的絮团尺寸分布。

特性


  • 揭示了成型幅面上的絮团大小和分布,避免絮团大小的错误计数结果
  • 对纸张进行分析,并按照16种絮团和空隙尺寸对纸张进行分级
  • 在全纸幅成像系统中,幅面成型分析可以与尘埃计数、瑕疵成像和高级分级相结合
  • 提供完整的纸张均匀度测量

好处


  • 提供更完整的信息,实现更好更快的决策
  • 与传统方法相比,可以对成型幅面进行更深入、更精确的分析
  • 避免错误的结果
  • 减少计划外的停机时间
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