L&W Stylus Roughness Tester Emveco mierzy szorstkość mikro-powierzchni tektury i kartonu pokryciowego tektury falistej. Właściwość oceniana nazywa się mikroodchyleniem. Jest to miara topografii powierzchni papieru lub kartonu. Microodchylenie koreluje dobrze z jednorodnością drukowania.
Cechy/Zalety
- Łatwość użycia:
– Automatyczne uruchamianie, fotokomórka wykrywa obecność próbki i automatycznie inicjuje sekwencję pomiarową, umożliwiając w ten sposób pomiary bez użycia rąk
– Duży ekran dotykowy zapewnia dobry podgląd
– Intuicyjny interfejs użytkownika
– Funkcja "auto-cycling" która umożliwia ciągłe pomiary
- Szybkie pomiary:
– Szybko - mniej niż 10 sekund w przypadku testowej długości 76 mm (3 cale)