L&W OptiTopo光学粗糙度仪

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L&W Optitopo光学粗糙度仪是一种测量表面粗糙度和预测纸张可印刷性的仪器。与传统的光学表面粗糙度测量方法相比,它速度更快、质量更好、成本更低。该方法由Innventia开发,十多年来已被证明是评估纸张表面和打印缺陷之间相关性的一种出色测试方法。

优势

  • 快速光学方法——几秒钟内即可生成测试报告
  • 可印刷性综合预测
  • 低成本测量设备
  • 广泛的测量范围
  • 高分辨率CMOS摄像机
  • 易于安装和启动
  • 符合人体工程学,自动化,操作简单
  • 采用触摸屏和用户友好界面
  • 轮廓测量配有带材给料机
  • 低维护量
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