ラボFT-IR/FT-NIR、フーリエ変換赤外分光法/フーリエ変換近赤外分光法、赤外分光測定
ラボFT-IR / FT-NIR
ABB分析測定は世界中の科学者が卓越した赤外分光測定を行うことを可能にします。ABBの高性能なラボ、アットライン、プロセスFT-IR/FT-NIR分析計は、多様なアプリケーションに対応しています。
FT-IRとFT-NIR
放射（可視光域における光線）は、その波長によって異なる名称を持ちます。一般に、ヒトの目に見える範囲の光を「可視光線（短波長限界：360 ~ 400、長波長限界：760～830 nm） *」といい、それよりも波長の長くおよそ1mmより短いものを「赤外線」と呼びます*。
この赤外線は、波長域ごとにさらに「近赤外線（Near-Infrared, およそ0.7 ~ 2.5 μm）」、「中赤外線（Mid-Infrared, およそ2.5 ~ 4 μm）」、「遠赤外線（Far-Infrared, およそ4 ~ 1,000 μm）」に大別されます。
* JIS Z8120 – 「光学用語」に基づく
FT-IR分光法では、これらの赤外線領域のうち、中赤外線～近赤外線領域を主として扱い、近赤外領域を主として扱う分析手法を「FT-NIR(フーリエ変換近赤外分光法)」、それより長波長域を主として扱う分析手法を「FT-IR（フーリエ赤外分光法）」と呼称します。
基本的な分析原理はいずれの分析手法も同様ですが、扱う波長域によってその特性は大きく異なります。近赤外線分光法は、測定物質に対して透過性の高い波長域の赤外線を扱うため、比較的高感度な分析が可能です。一方、赤外分光法では、物質固有の吸収スペクトルが現れる領域（指紋領域）を扱うため、測定対象に含まれる成分の定性に優れるという利点があります。
ABBでは、このFT-IR/FT-NIR分析計に関して、多様なアプリケーションに対応可能なラインナップを揃えております。